mikroskop je zariadenie , ktoré umožňuje , aby jeden vidieť veľmi malé objekty . V súčasnej dobe existuje mnoho rôznych typov mikroskopom a medzi ne patrí optické , elektrón a mikroskopu atomárnych síl ( AFM ) . AFM sa skladá z konzoly , na ktorých je atomárny špička . Vzhľadom k tomu , hrot je skenovaný cez povrch vzorky , sila medzi hrotom a vzorkou vedie ku konzole pohybujúce sa hore a dole s povrchom . AFM Tapping Mode
Existujú dva hlavné spôsoby AFM . Prvý režim je známy ako kontaktným spôsobom a v tejto konfigurácii je hrot fyzicky pretiahnuť cez povrch vzorky . Vzhľadom k tomu , špička sa pohybuje hore a dole v závislosti na funkciách na povrchu , výška je detekovaná pomocou laserový lúč odráža od povrchu oceľového nosníka . V režime kliknutím , špička nie je v kontakte s povrchom , ale namiesto toho sa pohybuje hore a dole v konštantnej výške nad povrchom . Vzhľadom k tomu , špičky bočne skenovanie po povrchu vzorky , sila medzi špičkou a vzorkou vedie k zmene amplitúdy kmitov , ktorý je detekovaný pomocou laserového lúča odráža od povrchu oceľového nosníka .
Tip Ochrana
Kontakt režim zahŕňa ťahanie hrotu po povrchu vzorky . Hoci tipy režim kontakt sú tvrdé , môžu nevyhnutne byť poškodený, ak boli vzorové funkcie sú náhle a tipy musieť byť nahradený pomerne často . Výčapné tipy režim by mal byť v zásade nikdy v kontakte s povrchom , a to znamená , že hrot má dlhšiu životnosť než režim ekvivalenty kontakt . Vzhľadom k tomu , hroty AFM sú drahé , spôsobe čapovania je najviac nákladovo efektívne prostriedky na realizáciu štúdií .
Uchovávanie vzoriek
Kontaktný režim je veľmi invazívne , pretože tip je fyzický kontakt so vzorkou . To môže viesť k poškodeniu povrchu vzorky , a často súčasťou hrotu materiálu bude uložená na povrchu vzorky . Spôsobu čapovanie nie je v kontakte so vzorkou , a povrch vzorky by mal zostať čistý .
Magnetic Force Microscopy
Niekedy je nutné zmapovať magnetické vlastnosti vzorky . Pri magnetickej tip je v kontakte so vzorkou , môže byť ťažké vyriešiť sily na špičke vyplývajúce z magnetizmu , a tie , práve z topológie vzorky . Vzhľadom k tomu , magnetizmus je ďalekonosný sila , zatiaľ čo topologické sily krátkeho dosahu , spôsobu čapovanie , ktorý sa koná v konštantnej výške nad povrchom vzorky , umožňuje výškovo a magnetické informácie , ktoré majú byť oddelené .
< Br >